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金属镀层测试仪 精密镀层测厚仪 X荧光测厚仪

金属镀层测试仪 精密镀层测厚仪 X荧光测厚仪

型    号: CMI-920
报    价: 1688
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英国牛津CMI920金属镀层测试仪 精密镀层测厚仪 X荧光测厚仪特点
精度高、稳定性好
强大的数据统计、处理功能
测量范围宽
NIST认证的标准片
全球服务及支持

CMI-920金属镀层测试仪 精密镀层测厚仪 X荧光测厚仪的详细资料:

一、产品概述:(金属镀层测试仪 精密镀层测厚仪 X荧光测厚仪

  CMI 900 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准确、快速的分析,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点,在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器等多个行业。

二、金属镀层测试仪 精密镀层测厚仪 X荧光测厚仪产品特点: 


1、样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
2、可检测元素范围:Ti22 - U92
3、可同时测定5层/15种元素
4、精度高、稳定性好
5、强大的数据统计、处理功能
6、测量范围宽
7、NIST认证的标准片
8、全球服务及支持

三、术参数;
CMI-920X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都于全世界的测厚行业
1、CMI902金、钯、锡等)和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定zui多5层、15 种元素。
2、精确度于世界,精确到0。025um  (相对与标准片)
3、数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求:如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
4、统计功能提供数据平均值、误差分析、zui大值、zui小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品;
5、可测量任一测量点,zui小可达0.025 x 0.051毫米

四、可选附件:

CMI900系列采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用,分别为:
l1、标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
  2、扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。

l3、可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
  4、程控样品台:XYZ轴自动控制。
  5、超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。

五、交货期限

 收到贵司订单及合同后6-8周


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