产品目录
产品展示
当前位置:首页 > 全部产品 >
X射线镀层测厚仪 X射线测厚仪 X射线膜厚仪

X射线镀层测厚仪 X射线测厚仪 X射线膜厚仪

型    号:
报    价: 720
分享到:

X射线镀层测厚仪 X射线测厚仪 X射线膜厚仪是一种专门应用于半导体材料、电子器件、微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜厚度测量。测量更小、更快、更薄Ux-720比现有其它的XRF仪器可以测量更小的面积、更薄的镀层和更加快速。可测试多镀层,合金镀层,能提供各类金属层、合金层厚度的快速、准确、稳定、无损的测量。

X射线镀层测厚仪 X射线测厚仪 X射线膜厚仪的详细资料:

X射线镀层测厚仪 X射线测厚仪 X射线膜厚仪能提供各类金属层、合金层厚度的快速、准确、稳定、无损的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值,同比其他牌子相同配置的机器,Ux-720为您大大节省成本。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。

X射线镀层测厚仪 X射线测厚仪 X射线膜厚仪应用例如:

*单层:Zn,Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。

*二元合金层:例如Fe上镀ZnNi和NiP。

*双层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Ag/Ni/Cu等

*三层:例如Cr/Ni/Cu/ABS等

产品指标:

测厚技术:X射线荧光测厚技术

测试样品种类:金属镀层,合金镀层

测量下限:0.003um

测量上限:30-50um(以材料元素判定)

测量层数:10层

测量用时:30-120秒

探测器类型:Si-PIN电制冷 

探测器分辨率:145eV

高压范围:0-50Kv,50W

X光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;

光管靶材:Mo靶;

滤光片:专用3种自动切换;

CCD观察:260万像素

微移动范围:XY15mm

输入电压:AC220V,50/60Hz

测试环境:非真空条件

数据通讯:USB2.0模式

准直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm

软件方法:FlexFP-Mult

工作区:开放工作区 自定义

样品腔:330×360×100mm

 

 


留言框

  • 产品:

  • 留言内容:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 详细地址:

  • 省份:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7