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镀层测厚仪 电镀镀层测厚仪 金属镀层测厚仪 金属电镀层膜厚测试仪

镀层测厚仪 电镀镀层测厚仪 金属镀层测厚仪 金属电镀层膜厚测试仪

型    号:
报    价: 720
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镀层测厚仪 电镀镀层测厚仪 金属镀层测厚仪 金属电镀层膜厚测试仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

镀层测厚仪 电镀镀层测厚仪 金属镀层测厚仪 金属电镀层膜厚测试仪的详细资料:

镀层测厚仪 电镀镀层测厚仪 金属镀层测厚仪 金属电镀层膜厚测试仪新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界。

    采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。

  Ux-720镀层测厚仪微移动平台和高清CCD搭配,旋钮调节设计在壳体外部,观察移动位置简单方便。

镀层测厚仪 电镀镀层测厚仪 金属镀层测厚仪 金属电镀层膜厚测试仪采用了技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。

    样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。

    设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。

技术指标:

测厚技术:X射线荧光测厚技术

测试样品种类:金属镀层,合金镀层

测量下限:0.003um

测量上限:30-50um(以材料元素判定)

测量层数:10层

测量用时:30-120秒

探测器类型:Si-PIN电制冷 

探测器分辨率:145eV

高压范围:0-50Kv,50W

X光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;

光管靶材:Mo靶;

滤光片:专用3种自动切换;

CCD观察:260万像素

微移动范围:XY15mm

输入电压:AC220V,50/60Hz

测试环境:非真空条件

数据通讯:USB2.0模式

准直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm

软件方法:FlexFP-Mult

工作区:开放工作区 自定义

样品腔:330×360×100mm

 

应用领域

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、电子电器、气配五金、卫浴等行业

 

 


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