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台式X荧光镀层测厚仪 国产电镀厚度检测仪 金属镀层分析仪

台式X荧光镀层测厚仪 国产电镀厚度检测仪 金属镀层分析仪

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报    价: 720
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台式X荧光镀层测厚仪 国产电镀厚度检测仪 金属镀层分析仪采用X荧光分析技术,可以测定各种金属镀层的厚度,包括单层、双层、多层及合金镀层等,可以进行电镀液的成分浓度测定。

台式X荧光镀层测厚仪 国产电镀厚度检测仪 金属镀层分析仪的详细资料:

台式X荧光镀层测厚仪 国产电镀厚度检测仪 金属镀层分析仪是能谱分析方法,属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时,其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线,不同的元素有不同的特征X射线;探测器探测到这些特征X射线后,将其光信号转变为模拟电信号;经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理;计算机独有的特殊应用软件根据获取的谱峰信息,通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。

它能检测出常见金属镀层厚度,无需样品预处理;分析时间短,仅为数十秒,即可分析出各金属镀层的厚度;分析测量动态范围宽,可从0.003μm50μm

我公司集中了国内zui优秀的X荧光分析﹑电子技术等行业技术研究开发专家及生产技术人员,依靠先进科学研究,总结多年的现场应用实践经验,结合中国的特色,开发生产出的台式X荧光镀层测厚仪 国产电镀厚度检测仪 金属镀层分析仪具有快速、准确、简便、实用等优点,广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。

三,特点:

1.  仪器外观选用独特的流线型设计,时尚雅致。

2.  同时分析元素周期表中由硫(S)到铀(U)。

3.  可以分析zui多5层镀层,一次可分析元素多达24种。

4.  无需复杂的样品预处理过程,无损测试。

5.  检出限可达到2ppm

6.  分析测量动态范围宽,可从0.005μm60μm

7.  采用美国原装、国际先进的探测器,能量分辨率高。

8.  采用美国原装、国际先进的AMP,处理速度快,精度高,稳定可靠。

9.  X光管采用正高压激发,激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示。

10. 采用彩色摄像头,准确观察拍摄样品。

11. 采用电动无极控制样品平台,可以进行X-Y-Z的移动,准确方便。

12. 采用双激光对焦系统,准确定位测量位置。

13. 高度传感器。

14. 保护传感器,有效保护探测器。

15. 精确度高,稳定性好,故障率低。

16. 辐射安全系统:隐蔽式设计、软件、硬件三重射线防护系统多层屏蔽保护,辐射安全性可靠。

17. WINDOWS XP 中文应用软件,独特先进的分析方法,完备强大的功能,操作简单,使用方便。

四.应用:

塑料制品工业镀层、电子材料镀层(接插件、半导体、线路板、电容器等)、钢铁材料镀层(铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等)、有色金属材料镀层(铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等)、其它各种镀层厚度的测量及成分分析。

1.铜上镀金单镀层厚度测量铁、铜等材料上镀金的金厚度测量是工业中常见的,利用Thick-900系列X荧光镀层测厚仪可以获得很的结果。

荧光厚度与已知厚度样品结果对比:

镀层标准厚度(µm

0.12

0.45

1.35

2.55

4.12

5.23

7.65

镀层荧光厚度(µm

0.11

0.48

1.37

2.47

4.06

5.35

7.58

2.铜上镀镍再镀金的双镀层厚度测量铁、铜等材料上先镀镍再镀金的厚度测量也是工业中常见的,见下表:

镍镀层标准厚度(µm

0.15

0.85

1.30

2.15

4.56

8.13

9.55

镍镀层荧光厚度(µm

0.13

0.88

1.33

2.20

4.60

,

8.25

9.48

金镀层标准厚度(µm

0.23

0.45

0.75

1.15

1.22

1.53

1.65

金镀层荧光厚度(µm

0.21

0.43

0.77

1.17

1.26

1.55

1.58

3.仪器长期稳定性评定单镀层Ni/Cu稳定性测定:连续测定20次,计算其标准偏差和相对标准偏差,均能达到很好的效果。

测量次数

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

Ni(um)

1.778

1.783

1.774

1.78

1.774

1.765

1.784

1.763

1.759

1.769

测量次数

11

12

13

14

15

16

17

18

19

20

Ni(um)

1.751

1.768

1.78

1.763

1.792

1.768

1.792

1.762

1.752

1.754

平均厚度

1.771

标准偏差

0.01231

相对标准偏差

0.00695

 

 

 

 

 

 


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