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X射线镀层测厚仪厂家、市场价格

X射线镀层测厚仪厂家、市场价格

型    号:
报    价: 720
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X射线镀层测厚仪厂家、市场价格功能用途:主要用于各种金属镀层的厚度分析、电镀液分析、电镀材质分析。
应用行业:电镀、五金、连接器、端子、PCB、手表、饰品等。

X射线镀层测厚仪厂家、市场价格的详细资料:

X射线镀层测厚仪厂家、市场价格应用

-RoHS/WEEE
-有害元素痕量分析
-焊料合金成分分析和镀层厚度测量
-电子产品中金和钯镀层的厚度测量
-五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量
-贵金属合金分析和牌号鉴定 

X射线镀层测厚仪厂家、市场价格性能特点


型的X荧光测厚仪,采用半导体解析器,能精准测试任何复杂镀层;
精确的光学定位系统,能测试直径很小的样品;
下照式样品台,不需定焦,使得测试变得简洁快速;
聚光型的X光管,能提高检测效率、增进稳定性和准确度;
手调微动样品台,可任意选择测试区域;
不锈钢样品腔,光亮美观;
强大的软件分析功能,可以自动识别镀层种类,选择对应测试模式,无需人工分析;
多种分析方法组合,解决同类X荧光测厚仪对于多层合金镀层无法准确测量的难题;
不但能测试镀层厚度,还能测试镀层成分以及可作为材料分析用。


技术参数

厚度测量范围:轻金属(如Ti、Cr等)    0.02~20um
         中金属(如Ni、Cu、Ag等)0.01~30um
         重金属(如Pt、Au等)    0.005~10um

测试样品种类:金属镀层,合金镀层

测量下限:0.003um

测量上限:30-50um(以材料元素判定)

测量层数:10层

测量用时:30-120秒

探测器类型:Si-PIN电制冷(根据客户需要,可选配更高灵敏度的电制冷SDD探测器)

探测器分辨率:145eV

高压范围:0-50Kv,50W

X光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;

光管靶材:Mo靶;

滤光片:专用3种自动切换;

CCD观察:260万像素

微移动范围:XY15mm

输入电压:AC220V,50/60Hz

测试环境:非真空条件

数据通讯:USB2.0模式

准直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm

软件方法:FlexFP-Mult

工作区:开放工作区 自定义

样品腔:330×360×100mm


软件配置

镀层测厚软件
金属材质分析软件(可选)


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