半导体晶圆接触角测量仪 Wafer水滴测试晶圆表面分析测量系统、晶圆表面张力分析系统适用于半导体晶圆（Wafer）工艺的质量控制。提供晶圆（Wafers）表面的快速并准确的接触角/表面能分析，从而评估粘性，洁净度及镀膜。接触角测量仪采用外形图像分析（Shape image analysis）方法测量样品表面亲疏水性、润湿性能、表面张力、表面能等数据的设备

界面张力仪，表面能测试仪器是通过图像处理计算出轮廓上所有坐标，以圆法、椭圆法、切线法、宽高法、三点法/五点法角度值来分析判定物体表面的附着力、粘接性、疏水性、洁净度等重要指标，主要用在手机玻璃镀膜疏水性测试、相机镜头防指纹镀膜喷涂、LED电子元件邦定前洁净度分析、防水防腐材料研发生产等行业中。

四川成都重庆SDC-1500高温真空接触角测量仪是采用光学成像的原理，通过图像轮廓分析方式测量高温状态下样品表面接触角、润湿性能、表界面张力、表面能等性能，设备通常用于检测金属材料表面性能，设备性价比高、加热稳定、真空度高、功能全面、可满足各种金属材料科研需要。

成都重庆空调铝箔亲水性接触角测试仪采用光学成像的原理，设备采用图像轮廓分析方式测量样品表面接触角、润湿性能、表界面张力、前进后退角、表面能等性能，设备采用全自动进液装置，性价比高、拓展性强、功能全面、可满足各种常规测量需求，目前已经广泛使用在众多高校院所及企业。

空调铝箔亲水性水滴角接触角测试仪采用光学成像的原理，设备采用图像轮廓分析方式测量样品表面接触角、润湿性能、表界面张力、前进后退角、表面能等性能，设备采用全自动进液装置，性价比高、拓展性强、功能全面、可满足各种常规测量需求，目前已经广泛使用在众多高校院所及企业。

水滴角测定仪通过图像处理计算出轮廓上所有坐标，以圆法、椭圆法、切线法、宽高法、三点法/五点法角度值来分析判定物体表面的附着力、粘接性、疏水性、洁净度等重要指标，主要用在手机玻璃镀膜疏水性测试、相机镜头防指纹镀膜喷涂、LED电子元件邦定前洁净度分析、防水防腐材料研发生产等行业中。